发布时间:
2020
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Dantsin-TR Scan Compact WLI非接触式微观形貌测量仪是一款新的紧凑型白光干涉仪。体积小、使用简单,快速测量横向尺寸用于零件的3D和微观形貌粗糙度,纳米级测量的理想解决方案。我们的白光干涉测量技术(WLI)具有 0.1纳米垂直分辨率,0.4毫米测量范围。Mirau(10x,20x,50x,100x)或 Michelson(2.5x,5x)等多种镜头可供选择以覆盖小和大视场。• 高速压电陶瓷Z轴 • Mirau 镜头(10x, 20x,50x, 100x) • Michelson 镜头(2.5x, 5x)• 压电陶瓷驱动集成在工作站内 • 直接影像• 2百万或5百万像素摄像头(根据测量速度的需求配置)可选不同配置产品应用:三维图像