说明：
需求：需求： 淬火车间进行着各种热处理工艺。例如真空淬火，惰性气体层淬火，渗碳渗氮及离子渗氮。客户送来的试样各式各样，不同尺寸，不同形状。因此，硬度计必须具备宽泛的测试高度且易于操作。在每一个热处理过程中，硬度必须随机抽检。为保证生产效率，测试过程必须快速且简单。硬度测试不单单用于控制终检，也用于过程的质量控制。此外，数据传输也必须集成进硬度计中，以便硬度计自动把数据传输到客户自己的系统中，避免未来的数据丢失。 总之，硬度计必须满足如下需求： ·需求测试方法:HRC ·快速硬度测试 ·大测试高度 ·简便易用 ·数据传输选项 ·简单操作 解决方案： DuraJet10–现代化的洛氏测量 现代化的洛氏硬度计加速你的质量控制 DuraJet10满足客户的所有需求。多亏它49N到1840N的电子压载力范围，它仅用一台设备就覆盖了整个洛氏方法范围。测试单元能够在垂直方向移动，移动高度0-260mm。因此大的或者小的工件都能够测试。试样用高精度鼻锥夹紧，然后自动或手动开始测量。鼻锥可以更换或移除假如需要，允许不夹紧那些难以接触的工件。硬度计的简易性和EMCO-TEST研发的软件大大节省了操作者的时间。所有的测试方法全部储存在软件中，如果需要可以随时通过触摸屏选择相应的方法。改变机器测试力的时间损耗不再是必要了。 现代化的洛氏硬度计加速你的质量控制 输出数据可以被分析处理，或者集中归档，这就促进了工厂的数据集成和管理。 为什么选择EMCO-TEST？ 这台极简的硬度计意味着它可以直接安装在车间现场，在热处理之后立即进行硬度的随机测试。DuraJet10的速度对用户来说是有用的，因为它节省了大量的时间。硬度计的用户方便性意味着不需要复杂的员工培训。因此，所有的热处理车间员工都能够操作这台硬度计。 “我们对EMCO-TEST满意。且...
说明：
精确且可视化的测量准确且可视化测量-多传感器测量技术监控生产质量 准确且可视化的测量 多传感器技术监控生产质量 在保证质量的情况下，不同的测量设备用于完成不同的测量任务：在生产监控中往往选择快速测量设备，而针对公差小的零件测量则需要高精度的复合式坐标测量机。计算机断层扫描技术可在首件检测时对零件进行完整数据采集。 计算机断层扫描技术在早期的工业应用中，常备用于零件的裂纹、空腔或者类似的缺陷的无损检测。如有设计精密的测量尺寸就必须要结合坐标测量技术。位于德国吉森的WERTH应市场需求，在2005年推出了全球创新带有计算机断层扫描技术的三坐标测量机（还可选择多种传感器），并在百隆公司（位于奥地利的福拉尔贝格）组建了就计算机断层扫描技术应用于尺寸测量技术领域的试点项目。该项目为百隆公司提供了多台不同功能的CT设备。有些设备目前还在为首件检测提供服务。2015年，百隆公司引进了WERTH新的小焦点300KV高射线管电压的CT设备，用于钢制零件的精准测量。 WERTH与百隆公司的合作已经有很长的历史。“早在1994年，我们就拥有了创新台WERTH的复合式坐标测量机”，HeimoMasser（图1）是百隆公司坐标测量技术的负责人。在过去的几年中，陆续采购的机器数量增加到30台。“大多数机器设备被安置在福拉尔贝格的生产基地，为超过6000种不同的测量程序进行三班工作制生产服务。” 准确且可视化测量-多传感器测量技术监控生产质量 极端多样的测试零件 供应商提供的用于高端家具的高品质铰链、折页和拉伸系统的大量多样性零件进行检测，测量任务从塑料零件的针头尺寸大小知道超过一米的导轨长度。由于不同的质量要求，需要选用不同的检测设备。 为了可能满足对零件生产量的生产监控，配备了拥有一个中立加速度的WerthInspectorFQ机器设备。线性驱动器为其提供了很高的侧昂速度：5轴定...
说明：
大量程下的高精度与快速坐标测量 N&RNeedhamCoLtd.在切斯特菲尔德创建于1972年。1977年，该公司迅速发展，以满足其不断增长的客户基础的需求。在此之前，该公司迁入了位于德比郡克雷的现有的制造工厂。由于对该公司服务的需求不断上升，随后又新建了两家工厂扩展。不断的投资新的加工设备意味着N&RNeedham现在有强大的加工能力并且能够进行多种多样的工作。 为了满足客户对大型复杂部件的准确加工的要求,N&RNeedham近期安装了一台MazakH1000卧式机床。考虑到Mazak机器生产的零件的大小以及公司的产量增加，因此对一个大量程坐标测量机(CMM)进行了调查，它必须容纳大的部件，并且能够提供所需的准确度。 在对可用的大量程CMM进行调研后，购买了一台AberlinkAzimuth三坐标，测量范围X1200Y3000Z1000。N&RNeedham主管,JoeNeedham解释道.“除了我们现有机器的产量水平不断提高外，我们近期安装的马扎克卧式加工设备也开始对我们的检测能力增加压力。” 大量程下的高精度与快速坐标测量 “尽管我认为每一个大型的CMM选项都是优良的机器，但AberlinkCMM却拥有我们所需要的准确性、速度和功能。此外，Aberlink3D软件操作简单。我们新的AberlinkCMM，位于一个新建的温度控制的检测区域，能够测量我们制造的大工件。此外，它的高精度和令人印象深刻的操作速度意味着它将能够以苛刻的公差来测量零件，同时也能适应未来预期的产量增长需要。” NRNeedham经理CliveBrooks说.“作为新的AberlinkCMM的主要操作者，我很高兴机器的软件和控制是如此直观和简单的操作。Aberlink创新次培训就让我快速的掌握了机器所有的基本功能操作。一旦我在CMM中得到一些经验，第二次，更高端的训练课...
说明：
优质的联接-针对工业联接器的复合测量方案 工业联接技术专家-魏德米勒公司，想将零件的手动检测转换为自动检测。针对几何测量任务和分析，企业在不久前基于德国WERTH复合式三坐标测量机，制定了一套标准。这套标准为从实验室到批量生产的流程提供了精准且能复现的测量数据。 当今没有一种工业分支可以离开电子技术和电子联接技术（所谓的工业联接）而单独存在。工业联接技术为工业领域传送三种基本元素：能源，信号和数据。这个领域的供应商之一就是总部位于代特莫尔特市的魏德米勒集团。实现的联接也是传统企业的主要诉求之一。因此对于魏德米勒来说，确保大程度的质量保证是必不可少的。从依据ISO9000标准的质量管理开始，到通过独立机构持续的监测。此种管控不仅监督生产车间而且也督查了企业的质量管理和企业内部的实验室。 员工是高质量产品的重要基础，这在他们关于质量的意识中早已根深蒂固。检具管理经理OlafDespang解释说：“魏德米勒是在确保质量的道路上成长发展起来的。与此相关的不仅是计量人员，而是所有员工都参与在内。其中，我的部门负责质保证质量管理的结构以及提供测量工具。” 精工制品和高端部件对测量来说是一个很大的挑战。WERTHScopeCheck系列机器以其高精度和适合的测量方法成为针对这类测量任务的选择。 优质的联接-针对工业联接器的复合测量方案 保障未来的测量技术 因为产品越来越复杂和微小，所以必须要对生产因素持续监测和优化。在OlafDespang身边有一个工作团队负责这项任务：为魏德米勒的工厂设计面向未来提供有保障的测量技术。“我们的结构是除了在测量技术的实验室外还在单个生产区域设有质量监测站。在那里，工人们必须自行为生产过程中的检测负责。”OlafDespang解释说。“目前，在每个监测站都有不同的测量理念和不同的检测仪器。现在，我们的工作是要去尽量统一它们。”未来测量部门和生产区域将做到兼...
说明：
Measuring the Nearly Immeasurable不可思议的晶圆厚度测量 在柏林费迪南德布劳恩研究所生产的半导体激光和高频放大器晶圆必须达到一个极度精密的层厚度。洁净室工人使用Werth多传感器坐标测量机监督这个过程。该机配有色差传感器，准确的无接触捕捉所需的测量元素。 在柏林的费迪南德布劳恩研究所、莱布尼兹研究所。共有220名员工，其中包括110名科学家。开发和生产用于材料加工、和精密测量技术，以及其他二极管激光器产品。另一个是通信技术、电力电子技术和传感器的高频零件的生产。“该半导体激光器具有低的安装高度，以及高精度的抛光和接触力，”工艺技术部的Dr.AndreasThies说这些。虽然这样的激光不大于一粒米，但它可以输出高达20瓦的连续波操作，或100瓦的快速脉冲波。激光在光盘中的大约是5000到25000倍。这些特点，伴随着在极端条件下的高可靠性，使得FBH激光器享誉全球。他们甚至在外太空试验，例如，在下一代GPS卫星的原子钟。光学有许多领域的应用案例。在医学技术中，他们通过开启一种准确定义的波长和受影响的被破坏细胞，在“Zhongliu”细胞中建立的“Yaowu”来帮助“Zhiliao”的光动力疗法。进一步的应用包括光学精密测量，工业测量和材料处理（粘接、焊接、雕刻）。 晶圆的各种加工过程 微波技术的研究和开发工作和光电是对基本技术的基础上完成的。利用外延（在单晶底面上放置的单晶半导体层），与所需的极薄的层的特征材料组装在硅晶圆上。使用现代工艺，晶圆要进一步加工，加工流程包括光刻方法，湿法和干法刻蚀工艺和金属化的步骤。约2000片与微波电路，或10000个激光芯片，能够组装成4英寸晶圆。 不可思议的晶圆厚度测量 图1在洁净室里：员工使用3D多传感器坐标测量机，采用色谱聚焦传感器测量晶圆厚度 在技术人员将芯片从晶圆分离并且把它们组装到光电或者高频原件...
说明：
线色谱传感器—高速下的高精度 WERTH为2017年Control展隆重推出新研发的传感器系列：线色谱传感器（ChromaticFocusLineSensor,CFL）。其可以快速采集整个零件的几何形状。通过选用不同的物镜，调节测量误差和测量范围来适应各种应用需求。通过大的轴向测量范围，不需要针对零件几何形状的可控的补充。以便通过扫描，快速并大面积获取零件几何形状。针对表面有高度变化的零件可以采用3D仿样进行扫描。线色谱传感器可以用于测量漫反射、镜面和透明零件以及有较大倾斜角的零件表面。 CFL在零件表面投影一排约200个白色光点。从零件表面反射回的光线将通过光谱分析，确定传感器和零件表面之间的距离。通过新的线传感器创新次实现了高速并且高精度地、完整地采集零件3D数据。仅仅用3秒钟就能够测量100万个测量点。 线色谱传感器还具有另一个有趣的功能：反射回的光的波长强度被分析评估，并创建零件表面的栅格图像。其后续的分析评估允许通过图像处理软件“在图像内”确定零件坐标系或者测量几何特征。在此基础上，由于位置的确定，可以不需要传感器转换就使用各种其他传感器进行测量。 在快速的测量速度下，CFL的测量准确度允许测量精密零件和微特征。该传感器不仅可以用于镜面或者透明零件如冲压印模或者硬质合金及金刚石刀具的测量，也可以用于漫反射的塑料零件的测量。通过高点密度来确定不同表面的形貌。例如微机械零件手表表盘。CFL的另一个典型应用是在半导体技术领域，在生产工序中，对于LED阵列的共面的测量。作为测量结果，是以点云的形式体现零件表面的完整形状，借此测量平面度或者粗糙度以及几何元素。也可以用颜色编码显示出理论实际值偏差。 线色谱传感器—高速下的高精度 线色谱传感器测量的点云数据和CAD模型的颜色编码偏差显示 线色谱传感器—高速下的高精度 手表表盘的栅格图像.线色谱传感器测量的点云数据和CAD模型的...