1.采用整体设计 - 即使在高功率下也能实现小焦斑测量，因此可以进行高分辨率的快速测量2.X射线源结合了封闭式和开放式微焦点X射线管的优点3.停机时间和运营成本最小化4.与传统三坐标测量机一样，整个设备的维护周期仅为一年5.OnTheFly 断层扫描和实时重建可实现快速测量6.符合 VDI 2617 标准的校准可获得可靠且可追溯的测量结果，可选配 DAkkS 证书技术规格设计类型带计算机断层扫描传感器的 3D CNC 坐标测量机测量范围最大工件尺寸 D = 289 mm / L = 456 mm（取决于工件的纵横比）准确性允许的长度测量偏差高达 3.5 µm
Werth TomoScope S完整和准确地测量-带有X射线电脑断层扫描的多传感器坐标测量机 TomoScope 所有机械移动轴均采用高精度的线性马达；X-光管电压达到225KV，分辨率达到1024 x 1024 象素；可在几分钟之内完成传统三坐标仪需要几小时或几天的测绘工作量；具有防碰撞保护的功能可对第二个Z轴传感器（选件）加以保护；优化的软件可实现高清晰的3D重建结构图象；全辐照防护系统不需要外加其他的防护装置。 设计具有电脑断层扫描功能的多传感器坐标测量机零件尺寸直径值约204毫米;长度值约398毫米 (取决于部件的幅型比)应用领域应用电脑断层扫描和Werth多传感器系统可对塑料、轻金属和石墨进行测量和数字化。 详细信息
Werth TomoCheck® S HA带有X射线电脑断层扫描的Werth多传感器坐标测量机设计带有空气轴承并具有电脑断层扫描功能的多传感器坐标测量机-能够完成高精密度的三维测量零件尺寸直径值约172毫米; 长度值约357毫米 (取决于部件的幅型比)允许长度测量误差 2,5 µm应用领域应用电脑断层扫描和Werth多传感器系统可对塑料、轻金属和石墨进行测量和数字化。
Dantsin-Werth将X射线扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现产品无损可视化准确测量，并可选配光学、光纤、探针、激光扫描等多种传感器。对工件内外部所有结构尺寸的高精密测量，同时可实现工件材质的缺陷分析。可对塑料、陶瓷、复合材料、金属等多种材质制成的产品进行无损尺寸测量和装配评估等。压缩测量周期的同时，保证了高品质的要求。此机荣获2005年度欧洲模具设计金奖。Tomo测量机主要特点：◆ 将X射线断层扫描成像技术整合到三坐标测量系统，实现复杂部件高精度内外尺寸测量◆ 可选配第二个Z轴，配置其他传感器（光学、探 针、光纤、激光等）◆ Werth公司技术复合式传感器技术，进一步保证 CT测量数据更准确◆ 坚固的花岗岩基座，保证机器具有高稳定性◆ 高精密机械轴承技术及线性导轨系统，确保实现高精度的测量◆ 无论从设计还是结构，测量机满足并超出X射线使用标准◆ 基于Werth公司优异的图形处理及3D重构技术，测量速度更快 ◆ Werth公司技术的X射线传感器独立校准系统◆ Werth公司技术的栅格断层扫描技术： 精密测量微小部件 扫描更大尺寸工件，提高分辨率 扩展测量范围◆ 测量软件可快速3D重构，也可进行2D测量◆ 测量工件内部尺寸的同时，也可实现材质缺陷分析◆ 选用全球广泛应用的WinWerth软件 (德国计量院PTB长度标准认证) ，界面友好，操作简单◆ 可使用Bestfit及公差拟合To...
Werth TomoScope® XL完整和准确测量的新的性能等级-带有X射线电脑断层扫描的Werth多传感器坐标测量机可对大型高密度部件进行测量 零件尺寸直径值约327毫米; 长度值约517毫米 (取决于部件的幅型比)应用领域应用电脑断层扫描技术和Werth多传感器系统，可完成对高密度部件的测量（如铝，钢，钛，弹性体，合成塑料， 2K，陶瓷， 玻璃纤维强化塑料等)。 详细信息
Werth TomoScope® XL NC完整和准确测量的新的性能等级-带有X射线电脑断层扫描的Werth多传感器坐标测量机，可对大型高密度部件进行测量 零件尺寸直径值约500毫米; 长度值约1010毫米 (取决于部件的幅型比)应用领域应用电脑断层扫描技术和Werth多传感器系统，可完成对高密度部件的测量（如铝，钢，钛，弹性体，合成塑料， 2K，陶瓷， 玻璃纤维强化塑料等)。 详细信息
[ Dantsin-TomoSim ]—— 引领断层扫描模拟新潮流 —— 近年来，断层扫描技术在制造业、医疗领域等方面得到了广泛应用。丹青Dantsin Werth不断创新，推出一款具有革命性的断层扫描模拟软件——TomoSim。今天，就让我们一起来了解一下这款软件的优势及其在实际应用中的表现。丹青Dantsin Werth计算机断层扫描技术采用先进的X射线技术，能够实现对工件内部结构的非破坏性检测。该系统在材料科学、质量控制、研发等领域具有广泛应用。TomoSim是一款基于CAD数据或STL格式点云的坐标测量软件，能够在外部计算机上离线模拟断层扫描过程。作为Dantsin Werth的一项创新技术，TomoSim通过逼真的工件体积模拟，为用户提供了在开始生产第一个工件之前进行完整评估的可能性。TomoSim优势：1、离线编程，提高生产效率TomoSim的创新之处在于，它允许用户在没有实际测试测量的情况下进行基于体积的分析教学。这意味着，在离线工作站上，我们可以使用WinWerth测量软件教授初始样品检测程序，同时生产第一个工件并在设备上进行其它测量。这将大大加快工艺流程，减少停机时间，提高生产效率。2、优化CT参数，降低伪影影响TomoSim可以对断层扫描过程进行模拟，从而对CT参数进行测试和优化。在模拟体积的帮助下，我们可以检测出明显的伪影，如光束硬化或旋转步骤太少造成的伪影，并选择适当的伪影校正方法。这将有助于提高断层扫描结果的准确性。3、完整的离线编程功能TomoSim具备完整的离线编程功能，支持毛刺检测、喷孔分析、孔隙分析、文本识别、SurfaceScan预定义或体积截面等多种分析手段。基于CAD模型或STL点云和工件材料的仿真，可实现多次测量和同时测量不同工件，满足各种复杂场景的需求。行业应用：1、质量控制：...