一步解决过程测量-海蒂诗采用Werth多传感器CMM取代多种手动测量手段 一步解决过程测量-海蒂诗采用Werth多传感器CMM取代多种手动测量手段 即使是在过程中间阶段，没有适当的测量系统是没有办法保证产品的高品质。对于很多公司而言，机床工作站的测量主要通过手动测量，借助卡尺，千分尺或指示器等工具。合格的工人知道如何使用这些工具，并且能够得到满意的测量结果。 然而，测量结果取决于工人，他们可能会允许一些意想不到的误差，这些误差不会记录在案。测量结果很少集成在计算机质量系统（CAQ）。几遍他们记录下这些宝贵的诗句他们也消失在文件柜中。通过支持评价的方式，上述的整个流程会更加准确，更加快捷。夹具五金制造商-Hettich（德国，Kirchlengern）就是一个实现上述目标的例子，他们采用多传感器三坐标测量仪（CMM）来取代原有的手动测量工具，改进的测量技术。 几台来自Werth测量技术的FQ型复合三坐标测量仪CMM设备渠道了原有的手动工作台，来完成过程测量任务。同时，公司的质量保证部门执行测量技术规范，并为复合三坐标测量仪CMM设备提供程序结构。 测量仪的软件和主要测量程序是专门为这一区域设计的。质量保证部门培训操作人员，并且把主要检测程序分成对应测量阶段的不同部分。目前，每台测量仪大概有1600个测量程序。为了处理大量的数据，这些程序在几台测量仪之间来回复制运行。这些保障措施使Hettich公司具备高质量标准。 优势 Hettich公司把单个部件的测量从17分钟减少到了约2.5分钟 使用Werth测量技术的FQ型CMM设备使每个部件的测量费用减少了一半 所有的传感器在同一个坐标系统，因此复合CMM设备能一步完成复杂部件的测量。 一步解决过程测量-海蒂诗采用Werth多传感器CMM取代多种手动测量手段 通过比较来证明实力 通过比较Hettich公司的实际检测手段就能看出其实力。Hettich公司出品一种定位钩，这种定位钩是一种多切口、多空的冲压钣金件。定位钩的高度预先通过检查量具测量。其他相关的特征通过指示器或卡钳测量，例如：定位钩位置。手动测量设备依旧可以用于预先测量相关尺寸。 传统的接触测量技术测量一个部件需要花费17分钟。传统的多传感器测量技术一个测量周期要10分钟。然而，Werth公司的FQ型测量仪耗时减半，仅需要5分钟。此外，Werth公司的“OneTheFly”工艺流程通过图像处理技术实现快速测量，使光学测量耗时减少10%。“OnTheFly”工艺流程用于连续运动测量，能够防止运动模糊且不需要启停时间。目前，Hettich公司每个部件的测量周期减半，总测量时间接近2.5分钟。 组合传感器技术 组合光学和接触传感器技术，一次设定就能完成一个完整的测量流程，不受操作人员的影响。此项技术能够测量长度、高度、空位置、剪切模型、扭转和弯曲度。图像处理传感器能够获取定位钩60%的特征参数。 依赖灰度技术，图像处理传感器的相机电子设备通过镜头将光学信号转换成数字图像。操作人员依然能够通过显示器看见图像。合适的软件确保了接触传感器的尺寸和精度，并能够显示和记录。 尽管使用光学澶观其实现非接触测量，但是不能摒弃接触传感器。因为光学测量技术无法测量某些几何形状，例如：凹陷。当图像处理传感器无法探测某些特征参数的时候，多传感器测量仪可以在相同的设定下实现接触式测量，从而实现三维轮廓和表面的扫描。在水平趋于和指定路径上，实现尽可能多的测量点。 对于定位钩，探头解决了40%的测量工作。这在整个测量周期中占据了相当大的部分。其40%的工作量占整个测量周期的70%。就这点而言，使用光学技术是有优势的。 高品质 客户采用自动、快捷的测量技术的目标是：进一步提高产品的质量。操作人员先将部件放置在复合CMM设备的定位夹具上，然后启动测量程序。接下来的工作自动化，而且，操作人员通过检测报告就可以知道是否要对设备进行调整，哪些参数需要调整，调整多少。多传感器CMM设备甚至能够一次设定就测量复杂特征参数，这是因为所有的传感器都在同一个坐标系内运行。处理新的部件，简单的调整测量程序即可。设置耗时和检测费用大大减少。 因为，原则上说，所有的部件都能在同一台测量仪上测量，且不需要专用测量夹具和量具，不需要制造校准和主部件，这部分的费用就节省了。与此同时，系统按照标准输出测量结果。 Hettich公司发现，在多样化的部件测量中使用多传感器CMM技术能够快速收回成本。伴随而来的品质价值和客户认可会让我们赢得更多的订单，其价值无法估算。