Dantsin-Trimos TRscan非接触式微观形貌测量仪，其稳固的机械结构保证非接触测量达到纳米级别。快速装夹系统让您可快速更换测头且无需重启软件。极简设计的Trimos Nanoware测量软件可进行2D测量。内置“垂直拼接”功能以扩展传感器的测量范围。“宏程序”功能可实现完全的自动测量。使用一个小托盘夹具即可将其放在生产线中进行批量测量。多国语言分析软件，可以根据当前的粗糙度标准和可用参数（如Ra、Rz、Rq等）生成测量报告。同一测量报告可以重复用于多个不同的项目。可进行动态分析，允许 选择某些特定参数，而无需修改测量值。广泛的传感器可供选择，以满足您所有 的非接触式测量需求。TR-Scan配备一个大数值孔径的测头，可以以35纳米的分辨率进行1毫米高度的测量，爬坡角度高达45度。可选配置：
Dantsin-Trimos TR-Scan系列非接触表面微观形貌(粗糙度)测量仪，TRIMOS公司针对反射、非反射及透明表面测量为您提供独特的多传感器解决方案。快速装夹系统让您可以在几秒时间内更换换测量头，并且无需重启软件。多种传感器可供选择，高分辨率矩阵传感器和超快速线阵传感器可在毫米级测量范围内进行快速测量，点扫描传感器可进行更大测量范围的测量。可用于计量单位和材料科学研发实验室，也广泛应用在工业制造领域：汽车、航天、航空、表面涂层、医疗产品、微型电机系统、半导体等行业。主要特点：• 逼真的三维形貌显示• 三维表面形貌缩放和旋转• 图像提升工具• 表面照明配置 • 渲染类型选择• 表面高度放大倍数调整• 垂直方向调色板优化• 动画视图显示 • 视频文件导出 • 轮廓图形显示及照片模拟• 轮廓抽取及分析 • 真彩图转换成三维伪彩图 可选测头： 应用示例：
Dantsin-TR Scan Compact WLI非接触式微观形貌测量仪是一款新的紧凑型白光干涉仪。体积小、使用简单，快速测量横向尺寸用于零件的3D和微观形貌粗糙度，纳米级测量的理想解决方案。我们的白光干涉测量技术（WLI）具有 0.1纳米垂直分辨率，0.4毫米测量范围。Mirau（10x，20x，50x，100x）或 Michelson（2.5x，5x）等多种镜头可供选择以覆盖小和大视场。• 高速压电陶瓷Z轴 • Mirau 镜头(10x, 20x,50x, 100x) • Michelson 镜头(2.5x, 5x)• 压电陶瓷驱动集成在工作站内 • 直接影像• 2百万或5百万像素摄像头（根据测量速度的需求配置）可选不同配置产品应用：三维图像